HS1000型三維表面形貌儀是一款高速的三維形貌儀，*高掃描速度可達(dá)1m/s,采用白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到...
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ST400型三維表面形貌儀是一款多功能的三維形貌儀，采用白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試...
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JR25型三維表面形貌儀是一款便攜式表面形貌測(cè)量?jī)x，采用白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)...
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PS50型三維表面形貌儀是一款科研版的三維表面形貌測(cè)量設(shè)備，采用國(guó)際**的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米...
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BI-2010粘度檢測(cè)器采用毛細(xì)管全橋式設(shè)計(jì)，具有高靈敏、低展寬、低噪音和節(jié)約測(cè)量時(shí)間等特點(diǎn)，其溫控可從室溫達(dá)到80℃...
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BI-DNDC示差折射儀按測(cè)量方式區(qū)分：在靜態(tài)方式下是測(cè)量聚合物溶液dn/dc值的專用儀器。采用注射器（2～2.5mL）直接進(jìn)樣...
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基于多年光散射技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)開(kāi)發(fā)研制的BI-MwA多角度激光光散射儀（絕.對(duì)分子量測(cè)定）、對(duì)光散射儀器，解決了絕.對(duì)分子量...
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BI-DCP/ BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理，通過(guò)高精度的數(shù)字式電機(jī)控制，是具有統(tǒng)計(jì)意義的粒度儀中分辨率、準(zhǔn)確率很...
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廣角激光光散射儀采用TurboCorr數(shù)字相關(guān)器，通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射的方法可以測(cè)量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過(guò)靜態(tài)光散射...
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90Plus亞微米/納米激光粒度儀基于動(dòng)態(tài)光散射原理，是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測(cè)試儀器。
動(dòng)態(tài)光散射原...
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90Plus PALS納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀是能夠精準(zhǔn)測(cè)量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的...
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Omni多角度納米激光粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Anal...
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表面缺陷檢測(cè)與控制PhoeniX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備。表面缺陷檢測(cè)與控制PhoeniX...
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表面缺陷檢測(cè)與控制ScrappiX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備。表面缺陷檢測(cè)與控制Scrapp...
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表面缺陷檢測(cè)與控制MatliX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備。表面缺陷檢測(cè)與控制MatliX可...
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X射線衍射儀，可變平行光束和聚焦幾何尺寸，可變粉末樣品臺(tái)和Eulerian Cradle。具有0.4度狹縫準(zhǔn)直器的平行光束檢測(cè)器。...
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佳航JH300／JH500 全自動(dòng)折光儀配備高性能線陣CCD感光部件，通過(guò)高速、高精度的信號(hào)采集和分析處理技術(shù)，配有半導(dǎo)體帕...
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儀邁Insmark的IR200系列手持式折光儀，時(shí)尚不同的造型，與眾不同的液晶顯示，屏幕導(dǎo)航功能，實(shí)現(xiàn)無(wú)紙化操作。
IR200系...
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儀邁Insmark的IR100系列智能折光儀，精度達(dá)到高水平0.00001，友好的中文彩屏界面及中英文輸入功能，符合GLP、國(guó)際糖度...
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儀邁Insmark的IP-digi600系列數(shù)字旋光儀，分辨率雙精度可選；GLP模式，數(shù)據(jù)溯源，電子簽名；IP-digi600系列數(shù)字旋光儀...
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